5월 11일 시안광학정밀기계연구소 검사측정센터가 개발한 ‘운반용 우주선 광학 CCD이미지센서 광학시스템 전용 지상보정장비’가 중국과학원 시안분원이 주관한 품평회에서 기술검증을 통과했다.

이 프로젝트는 스타포인트방법을 적용하여 광학시스템 이미지 평면에서 왜곡테스트 원리를 제시하고, 테스트장비 개발에 성공함으로써 왜곡테스트 기술 연구의 신규 방향을 유도했다. ‘운반용 우주선 광학 CCD이미지센서 광학시스템 전용 지상보정장비’는 현미경촬영시스템을 적용해 광학시스템 이미지 평면에서 수신기로 삼아 광학 줌 세분화 및 이미지 가중 무게중심(weighted centroid) 판독법과 결부해 스타포인트방법에 의한 이미지 위치를 측정했다. 한편 레이저 간섭법을 이용해 광학시스템 이미지 평면에서 현미경시스템의 배수량에 대한 고정밀 측정을 진행해 이미지 높이 측정 정밀도를 수십 나노미터로 끌어올렸다.

이 장비는 왜곡 측정 정밀도가 높으며, 광학시스템의 왜곡 설계와 결부시켰고, 왜곡 알고리즘은 가중최소제곱법과 턴테이블 표준각도를 이용해 이론적인 이미지 높이를 계산했다. 광학시스템의 영상공간 ±10mm 범위 내에서 절대적인 왜곡 측정 정밀도는 ±0.2μm보다 높았으며, 상대적인 왜곡 측정 정밀도는 0.002%보다 높았다. 사용자 사용을 통해 이 장비는 고정밀도 왜곡 측정이 가능함이 규명되었으며, 측정대상 광학시스템의 이미지 왜곡 변화와 분포를 진실하게 반영할 수 있어 '운반용 우주선 광학 CCD이미지센서 광학시스템 전용 지상보정장비'로 인정받았다.

정보출처 : http://www.opt.cas.cn/xwzx/kydt/201105/t20110516_3133751.html